Measurement of the Absolute Branching Fraction of D0→K-π+

Aubert, B.; Bona, M.; Boutigny, D.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Poireau, V.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Garra Tico, J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G.; Battaglia, M.; Brown, D.; Button-Shafer, J.; Cahn, R.; Groysman, Y.; Jacobsen, R.; Kadyk, J.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Kukartsev, G.; Lopes Pegna, D.; Lynch, G.; Mir, L.; Orimoto, T.; Pripstein, M.; Roe, N.; Ronan, M.; Tackmann, K.; Wenzel, W.; del Amo Sanchez, P.; Hawkes, C.; Watson, A.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Cottingham, W.; Walker, D.; Asgeirsson, D.; Cuhadar-Donszelmann, T.; Fulsom, B.; Hearty, C.; Knecht, N.; Mattison, T.; McKenna, J.; Khan, A.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, V.; Bukin, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E.; Stoker, D.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Foulkes, S.; Gary, J.; Liu, F.; Long, O.; Shen, B.; Zhang, L.; Paar, H.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Richman, J.; Beck, T.; Eisner, A.; Flacco, C.; Heusch, C.; Kroseberg, J.; Lockman, W.; Schalk, T.; Schumm, B.; Seiden, A.; Williams, D.; Wilson, M.; Winstrom, L.; Chen, E.; Cheng, C.; Dvoretskii, A.; Fang, F.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Mishra, K.; Sokoloff, M.; Blanc, F.; Bloom, P.; Chen, S.; Ford, W.; Hirschauer, J.; Kreisel, A.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Smith, J.; Ulmer, K.; Wagner, S.; Zhang, J.; Gabareen, A.; Soffer, A.; Toki, W.; Wilson, R.; Winklmeier, F.; Zeng, Q.; Altenburg, D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Brandt, T.; Klose, V.; Lacker, H.; Mader, W.; Nogowski, R.; Schubert, J.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Sundermann, J.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G.; Latour, E.; Lombardo, V.; Thiebaux, Ch.; Verderi, M.; Clark, P.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Robertson, A.; Xie, Y.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Franchini, P.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Prencipe, E.; Santoro, V.; Anulli, F.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K.; Morii, M.; Wu, J.; Dubitzky, R.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bard, D.; Dauncey, P.; Flack, R.; Nash, J.; Nikolich, M.; Panduro Vazquez, W.; Behera, P.; Chai, X.; Charles, M.; Mallik, U.; Meyer, N.; Ziegler, V.; Cochran, J.; Crawley, H.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Rubin, A.; Gritsan, A.; Guo, Z.; Lae, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Schott, G.; Arnaud, N.; Béquilleux, J.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Lepeltier, V.; Le Diberder, F.; Lutz, A.; Pruvot, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wang, W.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Chavez, C.; Forster, I.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Schofield, K.; Touramanis, C.; Bevan, A.; George, K.; Di Lodovico, F.; Menges, W.; Sacco, R.; Cowan, G.; Flaecher, H.; Hopkins, D.; Jackson, P.; McMahon, T.; Salvatore, F.; Wren, A.; Brown, D.; Davis, C.; Allison, J.; Barlow, N.; Barlow, Roger; Chia, Y.; Edgar, C.; Lafferty, G.; West, T.; Yi, J.; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Simi, G.; Tuggle, J.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S.; Li, X.; Moore, T.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Fisher, P.; Sciolla, G.; Sekula, S.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R.; Mclachlin, S.; Patel, P.; Robertson, S.; Lazzaro, A.; Palombo, F.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sanders, D.; Summers, D.; Zhao, H.; Brunet, S.; Côté, D.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Fabozzi, F.; Lista, L.; Monorchio, D.; Sciacca, C.; Baak, M.; Raven, G.; Snoek, H.; Jessop, C.; LoSecco, J.; Benelli, G.; Corwin, L.; Gan, K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J.; Rahimi, A.; Regensburger, J.; Ter-Antonyan, R.; Wong, Q.; Blount, N.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Gagliardi, N.; Gaz, A.; Margoni, M.; Morandin, M.; Pompili, A.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Ben-Haim, E.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; de la Vaissière, Ch.; Hamon, O.; Hartfiel, B.; Leruste, Ph.; Malclès, J.; Ocariz, J.; Perez, A.; Gladney, L.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Mazur, M.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Haire, M.; Biesiada, J.; Elmer, P.; Lau, Y.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Baracchini, E.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D’Orazio, A.; del Re, D.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Castelli, G.; Franek, B.; Olaiya, E.; Ricciardi, S.; Roethel, W.; Wilson, F.; Aleksan, R.; Emery, S.; Escalier, M.; Gaidot, A.; Ganzhur, S.; de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Legendre, M.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Chen, X.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M.; Wilson, J.; Allen, M.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Berger, N.; Claus, R.; Coleman, J.; Convery, M.; Dingfelder, J.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Field, R.; Glanzman, T.; Gowdy, S.; Graham, M.; Grenier, P.; Hast, C.; Hryn’ova, T.; Innes, W.; Kelsey, M.; Kim, H.; Kim, P.; Leith, D.; Li, S.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; O’Grady, C.; Perazzo, A.; Perl, M.; Pulliam, T.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J.; Va’vra, J.; van Bakel, N.; Wagner, A.; Weaver, M.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Yarritu, A.; Yi, K.; Young, C.; Burchat, P.; Edwards, A.; Majewski, S.; Petersen, B.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M.; Bula, R.; Ernst, J.; Jain, V.; Pan, B.; Saeed, M.; Wappler, F.; Zain, S.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S.; Eckmann, R.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schilling, C.; Schwitters, R.; Izen, J.; Lou, X.; Ye, S.; Bianchi, F.; Gallo, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Back, J.; Harrison, P.; Latham, T.; Mohanty, G.; Pappagallo, M.; Band, H.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K.; Hollar, J.; Kutter, P.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; Wu, S.; Yu, Z.; Neal, H.

Measurement of the Absolute Branching Fraction of D0→K-π+

Aubert, B. et al. (2008) Measurement of the Absolute Branching Fraction of D0→K-π+. Physical Review Letters, 100 (5). 051802. ISSN 0031-9007

Abstract
Information
Library
Statistics

[+][-]

Abstract

We measure the absolute branching fraction for D0→K-π+ using partial reconstruction of B̅ 0→D*+Xℓ-ν̅ ℓ decays, in which only the charged lepton and the pion from the decay D*+→D0π+ are used. Based on a data sample of 230×106 BB̅ pairs collected at the Υ(4S) resonance with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC, we obtain B(D0→K-π+)=(4.007±0.037±0.072)%, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.

Information

URI:

https://eprints.hud.ac.uk/id/eprint/10011

Title:

Measurement of the Absolute Branching Fraction of D0→K-π+

Creators:

Aubert, B. et al.

Identification Number:

10.1103/PhysRevLett.100.051802

Official URL:

http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.100.051802

Date: