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A Possible Mechanism for Electron-Bombardment-Induced Loop Punching in Helium-Implanted Materials

Donnelly, S. E., Lucas, A. A., Lambin, Ph. and Vigneron, J. P. (1983) A Possible Mechanism for Electron-Bombardment-Induced Loop Punching in Helium-Implanted Materials. Physica Status Solidi (a), 79 (2). pp. 543-548. ISSN 0031-8965

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Abstract

The recently proposed mechanism for the punching of dislocation loops by overpressurized helium bubbles in molybdenum is studied quantitatively. According to this mechanism, under the electron beam of the transmission microscope, He atoms are excited or ionized and the resulting excited species (excited He atoms and free electrons) are responsible for the pressure rise in the gas beyond the threshold for loop punching. In the model, the pressure increase is attributed to EL reduction of the effective volume accessible to the gas due to the formation of a cavity around each excited species. The radius of this cavity is evaluated and, also, the excited fraction required to reach the threshold is discussed in terms of excitation life times.

On examine quantitativement le mhcanisme, récemment proposé, pour I'émission de boucles de dislocation par des bulles d'hélium surpressurishées dans le molybdhe. D'aprés ce mécanisme, sous l'effet du faisceau électronique du microcsope á transmission, les atomes d'hélium sont excités ou ionisés et les especes excités résultantes (atomes He excites et electrons libres) sont responsables d'une élévation de pression dans le gaz suffisante pour dépasser le seuil nécessaire á l'émission d'une dislocation par la bulle. Dans notre modéle, l'é1évation de pression est attribuée á une diminution du volume effectif accessible au gaz par suite de la formation d'une cavité autour de chaque espéce excitée. Le rayon de cette cavité est évalué et la fraction excitee requise pour atteindre le seuil d'émission est discutée en fonction de la durée de vie des excitations.

Item Type: Article
Subjects: Q Science > QC Physics
Schools: School of Computing and Engineering > Electron Microscopy and Materials Analysis
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Depositing User: Graeme Greaves
Date Deposited: 02 Oct 2013 11:16
Last Modified: 02 Oct 2013 11:16
URI: http://eprints.hud.ac.uk/id/eprint/18632

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